Diskussion:Rasterkraftmikroskop
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Inhaltsverzeichnis |
[Bearbeiten] Nanoindentation
Hallo, im Bereich der dünnen Schichten kommt immer häufiger der Begriff "Nanoindentation", meiner Meinung nach AFM mit einer sehr feinen Nadel im Kraft-Abstands-Kurven-Modus. Liege ich da richtig? Gruß nikite (nicht signierter Beitrag von 80.138.203.54 (Diskussion) 09:31, 7. Nov. 2005 (CET))
[Bearbeiten] Blattfeder, Cantilever, Spitze, Tip, Chip
Im Anfang des Artikels kommt es entweder zu einer beliebten Verwechslung der o.g. Begriffe, oder es ist nur unglücklich ausgedrückt. Deshalb hier der Hinweis: An einem Chip (makroskopische Größe (ca. 3 X 1 mm²), meißt aus Si) ist ein Cantilever (Blattfeder) (Länge ca. 100µm (aber sehr unterschiedlich)) und an dem ist die Tip (Spitze) (verschiedene Geometrien, die hinterher auch über die Auflösung entscheiden, Stichwort Aspect Ratio), die eigentlich über die Probe gerastert wird.
Was die Anmerkung angeht, ob Herstellerlinks hier etwas verloren hätten würde ich in dem Sinne zustimmen, dass dort immer auch sehr gute Einführungen und weitere Literaturstellen zu verschiedensten SPM Themen zu finden sind.
mfg Felix Wählisch
(nicht signierter Beitrag von 212.222.128.20 (Diskussion) 17:47, 14. Mär. 2006 (CET))
[Bearbeiten] Zusätzliche Links
Ich schlage eine Verlinkung der freien Software Gwyddion vor: www.gwyddion.net. Sie kann mit äußerst vielen Formaten umgehen und beinhaltet alle wichtigen Funktionen zur Bildanalyse. (nicht signierter Beitrag von 84.136.207.59 (Diskussion) 00:59, 18. Feb. 2008 (CET))
[Bearbeiten] Shear-force Regelung?
Ich bin mir nicht ganz sicher daher stelle ich das mal hier zur Diskussion. Sollte die Shear-force Methode hier auch vorgestellt werden, oder einen eigenen Eintrag bekommen? Bisher kann ich keinen Eintrag dazu finden.
Wer nicht weiss was das ist: Eine Spitze geklebt auf einem Bein einer Stimmgabel (piezoelektrisches Material) welche an ihrer Resonanzfrequenz schwingt (normalerweise mechanisch angeregt, aber elektrisch angeregt wird auch benutzt). Die Änderung der Phase und Amplitude der Stimmgabel wird zum Regeln des Abstands zur Oberfläche benutzt. Unterschiede zu "klassischem" AFM: Schwingung parallel zur Oberfläche (und nur wenige Picometer normalerweise). Die Stimmgabel gibt direkt das Signal wieder, es wird also kein Laser zum detektieren gebraucht -> besser für kombinierte Mikroskope. (nicht signierter Beitrag von 134.2.98.31 (Diskussion) 09:52, 21. Apr. 2008 (CEST))
[Bearbeiten] Frage bezüglich Nicht-Kontakt-Modus
Hallo
Ich bin kein Fachmann bezüglich AFM aber im Abschnitt 3.1.2 (Nicht-Kontakt-Modus) finde ich etwas doch komisch. Es wird dabei geschrieben:
"Das Schwingungssignal des Federbalkens wird direkt mit einer Phasenverschiebung von 90° wieder an das Anregungselement rückgekoppelt, das heißt, ein geschlossener Schwingkreis entsteht."
Ist es nicht sondern mit einer Phasenverschiebung von 180° damit man die Regelabweichungsgröße bekommt (wie es auf 1. Abb. der Seite http://de.wikipedia.org/wiki/Regelkreis dargestellt wird) ?
Gruß
(Benutzer Acidvenom) (00:58, 5. Jun. 2011 (CEST), Datum/Uhrzeit nachträglich eingefügt, siehe Hilfe:Signatur)
- Welche Phasenverschiebung man für die Rückkopplung braucht, hängt davon ab wie man zurück koppelt: eine Kraft müsste um 90 Grad Phasenverschoben werden, eine Auslenkung um 0 bzw. 180 Grad. --91.3.61.38 21:33, 18. Nov. 2011 (CET)
[Bearbeiten] Art der interatomaren Kräfte
Im Artikel wird nicht erwähnt, um welche Kräfte es sich genau handelt, die zwischen den Atomen der Spitze und der Probe hauptsächlich wirken (Van der Waals etc...). (nicht signierter Beitrag von 147.96.97.13 (Diskussion) 16:15, 5. Feb. 2012 (CET))
- Hab mal was ergänzt. --Cepheiden 16:43, 5. Feb. 2012 (CET)
