Franz Josef Gießibl

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Franz Josef Gießibl (* 27. Mai 1962 in Amerang) ist ein deutscher Physiker und Universitätsprofessor.

Leben[Bearbeiten]

Gießibl studierte von 1982 bis 1987 Physik an der Technischen Universität München und an der Eidgenössischen Technischen Hochschule Zürich. 1988 diplomierte er an der Technischen Universität München bei Professor Gerhard Abstreiter mit einer Arbeit über experimentelle Halbleiterphysik.

Die Promotion erfolgte 1991 bei Professor Gerd Binnig an der Universität München über Tieftemperatur-Rasterkraftmikroskopie. Nach einer Tätigkeit als Berater bei McKinsey 1995 und 1996 wurde er 2001 bei Professor Jochen Mannhart an der Universität Augsburg habilitiert.

2006 erhielt er einen Ruf auf einen Lehrstuhl für Angewandte und Experimentelle Physik an die Universität Regensburg, den er annahm. Gießibl ist ein Pionier der Rasterkraftmikroskopie, der grundlegende experimentelle und theoretische Arbeiten zu diesem Thema verfasst hat. Gießibl ist der Erfinder des qPlus Sensors, einem auf einem Quarzfederbalken basierenden hochempfindlichen Sensor für die Kraftmikroskopie.

Werke[Bearbeiten]

  • F. J. Giessibl: Atomic resolution of the Silicon (111)-(7x7) surface by atomic force microscopy. In: Science. 267, Nr. 5194, 1995, S. 68–71.
  • F. J. Giessibl, S. Hembacher, H. Bielefeldt, J. Mannhart: Subatomic features on the Silicon (111)-(7x7) surface observed by atomic force microscopy. In: Science. 289, Nr. 5478, 2000, S. 422-425.
  • F. J. Giessibl: Advances in atomic force microscopy. In: Reviews of Modern Physics. 75, Nr. 3, 2003, S. 949–983.
  • Stefan Hembacher, Franz J. Giessibl, Jochen Mannhart: Force microscopy with light atom probes. In: Science. 305, Nr. 5682, 2004, S. 380-383.
  • Markus Ternes, Christopher P. Lutz, Cyrus F. Hirjibehedin, Franz J. Giessibl, Andreas J. Heinrich: The force needed to move an atom on a surface. In: Science. 319, Nr. 5682, 2008, S. 1066–1069.
  • Leo Gross, Fabian Mohn, Peter Liljeroth, Jascha Repp, Franz J. Giessibl, Gerhard Meyer: Measuring the Charge State of an Adatom with Noncontact Atomic Force Microscopy . In: Science. 324, Nr. 5933, 2009, S. 1428–1431.
  • A. J. Weymouth, T. Wutscher, J. Welker, T. Hofmann, F. J. Giessibl: Phantom Force Induced by Tunneling Current: A Characterization on Si(111). In: Physical Review Letters. 106, Nr. 22, 2011, article number 226801.
  • J. Welker, F. J. Giessibl: Resolving the Angular Symmetry of Chemical Bonds by Atomic Force Microscopy. In: Science. 336, Nr. 6080, 2012, S. 444–449.
  • F. J. Giessibl: Seeing the Reaction. In:Science. 340, 1417 (2013).
  • A. J. Weymouth, T. Hofmann, F. J. Giessibl: Quantifying Molecular Stiffness and Interaction with Lateral Force Microscopy. In: Science, DOI: 10.1126/science.1249502 (2014).

Auszeichnungen[Bearbeiten]

  • 1994: R&D 100 Award
  • 2000: Deutscher Nanowissenschaftspreis
  • 2001: Rudolf-Kaiser-Preis
  • 2009: Karl Heinz Beckurts-Stiftung
  • 2010: Ehrenfest Kolloquium Leiden (Niederlande)
  • 2014: Joseph F. Keithley Award for Advances in Measurement Science der Amerikanischen Physikalischen Gesellschaft

Weblinks[Bearbeiten]