Michael John Whelan
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Michael John Whelan (* 2. November 1931) ist ein britischer Physiker. Er ist bekannt durch seine grundlegenden Arbeiten zur Transmissionselektronenmikroskopie. Er ist Prof. em. der Oxford University.
Whelan studierte an der University of Cambridge. Im Jahre 1965 veröffentlichte er die Arbeit Electron Microscopy of Thin Crystals[1] zusammen mit Peter B. Hirsch, A. Howie, Pashley und Nicholson.
Er ist Fellow der Japanese Society of Microscopy (2003) und der Microscopy Society of America (2009).
Auszeichnungen[Bearbeiten | Quelltext bearbeiten]
- 1965 C.V. Boyes Prize, Institute of Physics
- 1976 Fellow of the Royal Society
- 1988 Hughes-Medaille zusammen mit Archibald Howie
- 1998 Distinguished Scientist Award, Microscope Society of America
- 2011 Gjønnes Medal in Electron Crystallography zusammen mit Archibald Howie
Literatur[Bearbeiten | Quelltext bearbeiten]
- Who’s Who 2012. 164. Auflage. A & C Black, London 2011, ISBN 978-1-4081-4229-5, S. 2446.
Weblinks[Bearbeiten | Quelltext bearbeiten]
- Michael J. Whelan's homepage at Oxford University
- Prof M J Whelan, FRS Authorised Biography – Debrett's People of Today
Einzelnachweise[Bearbeiten | Quelltext bearbeiten]
- ↑ P. Hirsch, A. Howie, R. Nicholson, D. W. Pashley and M.J. Whelan (1965/1977): Electron microscopy of thin crystals (Butterworths/Krieger, London/Malabar FL) ISBN 0-88275-376-2.
| Personendaten | |
|---|---|
| NAME | Whelan, Michael John |
| ALTERNATIVNAMEN | Whelan, Michael J.; Whelan, M. J. |
| KURZBESCHREIBUNG | britischer Physiker |
| GEBURTSDATUM | 2. November 1931 |