Sekundäremission

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Der Titel dieses Artikels ist mehrdeutig. Weitere Bedeutungen sind unter Sekundäremission (Begriffsklärung) aufgeführt.

Sekundäremission ist in der Physik eine Bezeichnung für die durch primäre Teilchen oder Strahlung induzierte Emission von Sekundärteilchen oder Strahlung beim Auftreffen auf Oberflächen oder Durchqueren von Materialien. Auslöser für die Sekundäremission sind häufig Elektronen, Ionen oder hochenergetische Strahlung (Röntgen- oder Gammastrahlung). Wenn es sich bei den Sekundärteilchen um Elektronen handelt, spricht man von einer Sekundärelektronenemission, handelt es sich um Ionen, spricht man von einer Sekundärionenemission.

Die Energieverteilung und Emissionsrate der Sekundärelektronen lässt Rückschlüsse auf die Oberflächenbeschaffenheit bzw. die Materialeigenschaften zu. Dies wird bei der Sekundärelektronenmikroskopie ausgenutzt, die den Standardbetriebsmodus beim Rasterelektronenmikroskop darstellt. Dabei wird die Probe mit einem Elektronenstrahl beschossen und die dabei ausgelösten Sekundärelektronen werden detektiert.

Ein Sekundärelektronenvervielfacher nutzt die Entstehung von Sekundärelektronen aus, um sehr kleine Ströme zu verstärken und damit besser detektierbar zu machen. Die bekannteste Bauform eines solchen Vervielfachers ist der Photomultiplier.

In einem Sekundärionen-Massenspektrometer wird die Erzeugung von Sekundärionen durch primäre Ionen zur Oberflächenanalyse verwendet.

Literatur[Bearbeiten]

  • Andrew Zangwill: Physics at Surfaces, Cambridge University Press 1988, ISBN 0-521-34752-1

Siehe auch[Bearbeiten]