Topografie (Messtechnik)

aus Wikipedia, der freien Enzyklopädie
Dies ist die aktuelle Version dieser Seite, zuletzt bearbeitet am 19. April 2023 um 15:22 Uhr durch Acky69 (Diskussion | Beiträge) (eigenen Fehler korrigiert, sorry).
(Unterschied) ← Nächstältere Version | Aktuelle Version (Unterschied) | Nächstjüngere Version → (Unterschied)
Zur Navigation springen Zur Suche springen

Der Begriff Topografie (von altgriechisch τόπος tópos, deutsch ‚Ort‘, und γράφειν grafeïn, deutsch ‚zeichnen‘ bzw. ‚beschreiben‘; wörtlich ‚Ortsbeschreibung‘) – auch Oberflächenbeschaffenheit – bezeichnet im Bereich der Messtechnik die Beschreibung sowohl der geometrischen Gestalt als auch der physikalischen und chemischen Eigenschaften von technischen Oberflächen oder Mikrostrukturen.

Die Beschreibung der Topografie (Oberflächenrauheit, Oberflächengestalt usw.) basiert in der Regel auf Daten von Messverfahren wie mechanischen und optischen Profilometern oder Rasterkraftmikroskopen.

  • Peter Kiehl: Einführung in die DIN-Normen. Vieweg+Teubner, 2001, ISBN 3-519-26301-7, Kapitel 16: Technische Oberflächen.