„Majoritätsladungsträger“ – Versionsunterschied

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'''Majoritätsladungsträger''' ist die Bezeichnung der [[Ladungsträger (Physik)|Ladungsträgerart]] eines [[Dotierung|dotierten]] [[Halbleiter]]s, die aufgrund der Dotierung häufiger vorkommt als die [[Minoritätsladungsträger]]. Bei p-[[Dotierung]] sind die Majoritätsladungsträger die [[Defektelektron]]en (auch Löcher genannt), bei n-Dotierung sind es die [[Elektron]]en.
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'''Majoritätsladungsträger''' ist die Bezeichnung der [[Ladungsträger (Physik)|Ladungsträgerart]] eines dotierten [[Halbleiter]]s, die häufiger vorkommt als die [[Minoritätsladungsträger]]. Bei p-[[Dotierung]] sind die Majoritätsladungsträger die [[Defektelektron]]en (auch Löcher genannt), bei n-Dotierung sind es die [[Elektron]]en. Je nach Halbleitermaterial und Dotierungselement kann es vorkommen, dass bei Raumtemperatur praktisch alle [[Bändermodell#Isolatoren und Halbleiter|Donatoren]] beziehungsweise [[Bändermodell#Halbleiter|Akzeptoren]] ionisiert sind ([[Störstellenerschöpfung]]). Dies führt dann zu einer Majoritätsladungsträger-Konzentration im


Je nach Halbleitermaterial und Dotierungselement kann es vorkommen, dass bei Raumtemperatur praktisch alle [[Bändermodell#Isolatoren und Halbleiter|Donatoren]] beziehungsweise [[Bändermodell#Halbleiter|Akzeptoren]] ionisiert sind ([[Störstellenerschöpfung]]). Dies führt im Fall einer Einfach-Dotierung (nur eine Dotierungsart vorhanden) deutlich größer der [[Eigenleitungsdichte]] ( <math>N_\mathrm{A}^- \gg n_\mathrm{i} </math> bzw. <math>N_\mathrm{D}^+ \gg n_\mathrm{i} </math>) des Halbleiters zu einer Majoritätsladungsträger-Konzentration der <math>p</math> (der Defektelektronen) bzw. <math>n</math> (der Elektronen) im
*p-Gebiet:

*p-Gebiet:<ref name="Thuselt"/>
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p
p=\frac{n_A}{2}+\sqrt{\left(\frac{n_A}{2}\right)^2 + n_i^2} \approx N_A=\mathrm{konst.} \,
=\frac{N_\mathrm{A}^-}{2}+\sqrt{\left(\frac{N_\mathrm{A}^-}{2}\right)^2 + n_\mathrm{i}^2}
\approx N_\mathrm{A}^-=N_\mathrm{A}=\mathrm{konst.} \,
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*n-Gebiet:
*n-Gebiet:<ref name="Thuselt"/>
*:<math>
*:<math>
n
n=\frac{n_D}{2}+\sqrt{\left(\frac{n_D}{2}\right)^2 + n_i^2} \approx N_D=\mathrm{konst.} \,
=\frac{N_\mathrm{D}^+}{2}+\sqrt{\left(\frac{N_\mathrm{D}^+}{2}\right)^2 + n_\mathrm{i}^2}
\approx N_\mathrm{D}^+=N_\mathrm{D}=\mathrm{konst.} \,
</math>
</math>

mit der Eigenleitungsdichte <math>n_\mathrm{i}</math>, den Konzentrationen der ionisierten Donator- <math>N_\mathrm{D}^+</math> und Akzeptoratome <math>N_\mathrm{A}^-</math> sowie der Konzentration aller
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*[[Minoritätsladungsträger]]
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Aktuelle Version vom 2. August 2020, 22:40 Uhr

Majoritätsladungsträger ist die Bezeichnung der Ladungsträgerart eines dotierten Halbleiters, die aufgrund der Dotierung häufiger vorkommt als die Minoritätsladungsträger. Bei p-Dotierung sind die Majoritätsladungsträger die Defektelektronen (auch Löcher genannt), bei n-Dotierung sind es die Elektronen.

Je nach Halbleitermaterial und Dotierungselement kann es vorkommen, dass bei Raumtemperatur praktisch alle Donatoren beziehungsweise Akzeptoren ionisiert sind (Störstellenerschöpfung). Dies führt im Fall einer Einfach-Dotierung (nur eine Dotierungsart vorhanden) deutlich größer der Eigenleitungsdichte ( bzw. ) des Halbleiters zu einer Majoritätsladungsträger-Konzentration der (der Defektelektronen) bzw. (der Elektronen) im

  • p-Gebiet:[1]
  • n-Gebiet:[1]

mit der Eigenleitungsdichte , den Konzentrationen der ionisierten Donator- und Akzeptoratome sowie der Konzentration aller (geladenen und neutralen) Donatoren und Akzeptoren .

  • Albrecht Möschwitzer, Klaus Lunze: Halbleiterelektronik. Lehrbuch. 2., bearb. Auflage. Verl. Technik, Berlin 1975, DNB 200142224.

Einzelnachweise

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  1. a b Frank Thuselt: Physik der Halbleiterbauelemente : einführendes Lehrbuch für Ingenieure und Physiker. Springer, Berlin/Heidelberg/New York 2005, ISBN 3-540-22316-9, S. 68 ff.