Diskussion:ICT-Testsystem

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Letzter Kommentar: vor 14 Jahren von ReinerSpass in Abschnitt Redundanz

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Redundanz

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Letzter Kommentar: vor 14 Jahren3 Kommentare2 Personen sind an der Diskussion beteiligt

Hallo zusammen, die Artikel In-Circuit-Test und ICT-Testsystem sind meiner Meinung nach redundant und sollten zusammengeführt werden. --ReinerSpass 15:55, 4. Jun. 2010 (CEST)Beantworten

Die Diskussion zur Redundanz der beiden Artikel sollte unter Wikipedia:Redundanz/Juni_2010#ICT-Testsystem_-_In-Circuit-Test geführt werden. Da du den baustein eingefügt hast, füge bitte auch dort (Wikipedia:Redundanz/Juni_2010) den Abschnitt [[ICT-Testsystem]] - [[In-Circuit-Test]] mit einer Begründung und evtl. einerm Lösungsvorschlag ein. --Cepheiden 16:23, 4. Jun. 2010 (CEST)Beantworten

Schon erledigt, vielen Dank für den Hinweis. --ReinerSpass 16:44, 4. Jun. 2010 (CEST)Beantworten

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