Topografie (Messtechnik)

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Der Begriff Topografie (von griechisch τόπος tópos, dt. Ort, und γράφειν grafeïn, dt. zeichnen bzw. beschreiben; wörtlich „Ortsbeschreibung“) – auch Oberflächenbeschaffenheit – bezeichnet im Bereich der Messtechnik die Beschreibung sowohl der geometrischen Gestalt als auch der physikalischen und chemischen Eigenschaften von technischen Oberflächen oder Mikrostrukturen.

Die Beschreibung der Topografie (Oberflächenrauheit, Oberflächengestalt usw.) basiert in der Regel auf Daten von Messverfahren wie mechanischen und optischen Profilometern oder Rasterkraftmikroskopen.

Literatur[Bearbeiten | Quelltext bearbeiten]

  • Peter Kiehl: Einführung in die DIN-Normen. Vieweg+Teubner, 2001, ISBN 3-519-26301-7 (Kapitel 16. Technische Oberflächen).