Diskussion:Scan Test
Letzter Kommentar: vor 13 Jahren von Wosch21149 in Abschnitt Verständlichkeit
Komplexität[Quelltext bearbeiten]
Wenn sämtliche Flip-Flops einer integrierten Schaltung hintereinandergeschaltet werden und auch noch zusätzliche Shift-Betriebssignalisierungen eingebaut werden, erhöht dies nicht extrem die interne Verschaltung dieser integierten Schaltung? --Abdull 21:09, 7. Feb. 2010 (CET)
- Es ist natürlich ein gewisser "Overhead" nötig, der bis zu 10% betragen kann. Dem steht aber eine extreme Vereinfachung des Tests aller Komponenten des ICs entgegen. Ohne Scan Test müsste alles funktional getestet werden, was einen erheblichen Mehraufwand an Zeit (und Testkosten) bedeutet. Ausserdem kann die Testabdeckung nahezu 100% erreichen. -- Wosch21149 12:31, 8. Jan. 2011 (CET)
Verständlichkeit[Quelltext bearbeiten]
Dieser Artikel beschreibt sehr präzise das Testverfahren. Allerdings erscheint er mir nicht gerade leicht verständlich. Durch Überarbeitung und evtl. Einfügen einer Graphik könnte er wesentlich anschaulicher gemacht werden. Er könnte dann auch besser als Hintergrund für den (überarbeitungswürdigen) Artikel Boundary Scan Test verwendet werden. -- Wosch21149 12:51, 8. Jan. 2011 (CET)