Nanometrics
| Nanometrics Incorporated
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| Rechtsform | Corporation |
| ISIN | US6300771051 |
| Gründung | 1975 |
| Sitz | Milpitas, Kalifornien |
| Leitung | Timothy J. (Tim) Stultz (CEO) |
| Mitarbeiterzahl | 552 (2011)[1] |
| Umsatz | 230,1 Mio. US-Dollar (2011)[1][2] |
| Branche | Maschinenbauer für die Halbleiterindustrie |
| Website | www.nanometrics.com |
Nanometrics Incorporated ist ein US-amerikanisches Unternehmen, das Geräte zur Inspektion und Produktionsüberwachung von Halbleiterprodukten herstellt. Darunter befinden sich System für die Messung von Oberprofilen mittels Scatterometrie, dem Overlay-Versatz sowie Eigenschaften wie die Dicke oder dem Brechungsindex von dünnen Schichten, die auf ein Substrat, z. B. ein Wafer, aufgebracht wurden, vgl. Ellipsometrie und Reflektometrie. Wettbewerber in diesem Bereich sind u. a. KLA-Tencor und Rudolph Technologies.
Nanometrics wurde 1975 gegründet. Der Hauptsitz des Unternehmens befindet sich in Milpitas, Kalifornien. Seit 1984 ist es an der US-amerikanischen Börse NASDAQ (Kürzel: NANO) notiert. [3] Zu den wichtigsten Kunden gehören viele der größten Halbleiter- und Prozessanlagen-Hersteller der Welt, darunter Intel, Samsung Electronics oder Hynix Semiconductor, aber auch Unternehmen aus dem Bereich Photovoltaik.[1][4]
Einzelnachweise
- ↑ a b c Nanometrics Incorporated. In: Answers.com. Abgerufen am 16. April 2012.
- ↑ Nanometrics Reports Fourth Quarter and Full Year 2011 Financial Results. Nanometrics, 8. Februar 2012, abgerufen am 16. April 2012.
- ↑ About Nanometrics. Nanometrics, abgerufen am 16. April 2012.
- ↑ Nanometrics (Hrsg.): Annual Report 2010. 11. März 2011 (PDF).